双晶直探头具有独立发射和接受的晶片，在工件中产生一定聚焦长度的双晶片换能器。主要应用于腐蚀检测、涂层测量、剩余壁厚测量、近表面缺陷检测、高衰减材料检测以及铸锻件中裂纹、气孔、夹杂物、孔隙度的检测。
1. 没有始波盲区的影响；
2. 散射小，能提高在高衰减高散射材料检测中的信噪比；
3. 在弯曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；
4. 两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。
(1) "PL"通用型系列:
用于需要高灵敏度与穿透力并对分辨率、带宽要求不高的应用场合。
(2) "C"压电复合陶瓷系列:
保证在高衰减材料的检测中具有很高的信噪比，并将灵敏度、分辨率和穿透力完美结合。
中国规格
1. 探头默认“性能类型”为PL系列
2. 探头接口默认为:顶装Microdot、Q6
欧洲规格
2.探头接口默认为侧装C5(Lemo-00)
北美规格
1.探头具有低矮的高度，出线端配有可把持手柄，适用于难以进入的检测空间
2.探头默认侧面出线，线长为1.8m，电缆线末端接口有C9(Lemo-1)，Q9(BNC)可选
